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X-Probe 雙行程氣動帶冷卻治具

Home > ICT測試 > TR8001系列 > X-Probe 雙行程氣動帶冷卻治具

待測板測點資源非常密集時,采用X-Probe模式設計測試治具,探針直徑變大,測試更穩定


功能特點:

◆ dual stage機械限位,減少撥針而影響覆蓋率

◆ 線路最短,減小干擾,測試穩定
◆ 采用layout PCB板代替繞線

◆ 可應對復雜結構測試
◆ 探針采用X-PROBE
◆ 減少應力的風險


技術指標:

◆ 外觀尺寸: L756 X W623 X H332(mm)

◆ 氣壓: 0.4~0.8 MPA
◆ 重量: 115 KG/Unit
◆ 電源: 220V AC
◆ 功率: 50HZ
◆ 結構:氣動


外觀參考:





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